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单器件的LED测试系统
majack | 2011-09-05 13:58:01    阅读:934   发布文章



元器件操控器将单个HBLED(或者一组HBLED)运送到一个测试夹具上,夹具可以屏蔽环境光,且内带一个用于光测量的光电探测器(PD)[1]。需要使用两个SMU:SMU#1向HBLED提供测试信号,并测量其电响应;SMU#2则在光学测量过程中检测光电探测器。  

 

测试程序可以被编程设定为,在一根来自于元器件操控器的数字信号线[作为“测试启动”(SOT)[2]]控制下启动。当仪器探测到该信号时,测试程序启动。一旦执行完毕,则让元器件操纵器的一条数字信号线发出“测试完毕”的标志。此外,仪器的内建智能可以执行所有的通过/不通过操纵并通过仪器的数字I/O端口发送数字指令至元器件操纵器,以便让HBLED能根据通过/不通过标准来对HBLED进行分类。于是可以通过编程让两个动作同时执行:数据传送至PC进行统计处理,而同时一个新的DUT[3]运送到测试夹具上。

 

 

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[1] 光电探测器:http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/localizedproducts/2004_china_catalog.pdf

[2] SOT: http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/2499digio

[3] DUThttp://www.keithley.com.cn/events/proddemos/27xxdemo/demoimages/PD1_DUT.jpg/view

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